電子スペックルパターン干渉法を用いた張力膜のリンクル計測

詳細内容
発行年 2004年
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タイトル 電子スペックルパターン干渉法を用いた張力膜のリンクル計測
著者 松田浩、下郡康二、山下 務、阪上直美
概要 電子スペックルパターン干渉(ＥＳＰＩ) 計測法は、可視光線下で非接触かつ全視野計測が可能である。本研究ではＥＳＰＩ 計測法を用いて膜材の応力・ひずみ分布を計測し、力学物性値を調べ、張力膜のリンクル現象の発生過程について考察するとともに、膜材の計測法への力学特性の適用可能性を追及したものである。